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JEOL:即将发布扫描电子显微镜JSM-IT710HR/JSM-IT210

2023年07月13日 AM02:20
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东京

(美国商业资讯)– JEOL Ltd. (TOKYO:6951)(总裁兼首席执行官:Izumi Oi)宣布将于2023年7月23日发布扫描电子显微镜JSM-IT710HR/JSM-IT210。

本新闻稿包含多媒体。此处查看新闻稿全文: https://www.businesswire.com/news/home/20230709725153/zh-CN/

JSM-IT710HR(照片:美国商业资讯)

JSM-IT710HR(照片:美国商业资讯)

扫描电子显微镜广泛用于从基础研究、生产线、质量保证到研发的各个阶段,其应用领域包括金属、半导体、电池、生物技术和聚合物等。用户越来越希望扫描电子显微镜能够更方便地帮助他们确认成分信息,而无需关心观测和分析过程。

JSM-IT710HR改进了电子枪的稳定性,JSM-IT210则采用了5轴电机控制的样品台。两款型号均提升了用于观测和分析的自动测量功能,从而显著提高了扫描电子显微镜(SEM)的综合能力。这两款仪器将满足近年来市场对自动测量的需求,有助于提高日常工作的效率。

主要功能

1. “Simple SEM”功能可自动获取SEM图像并进行EDS分析

利用“Simple SEM”功能,用户只需设定SEM图像的采集条件和视场,即可自动获得SEM图像和EDS(能量色散X射线光谱测定)分析的结果。该功能将有助于提高包括分析在内的日常工作的效率。

2. “Live3D”功能可现场构建3D图像

在进行SEM观测的同时,可现场构建3D图像,以获取凹凸和深度信息。

3. “样品台导航系统LS”使用户能够获得相当于传统系统5倍区域的光学图像

“样品台导航系统LS”能够获得相当于传统系统5倍区域(直径约159mm)的光学图像。获得观测样本的光学图像后,用户只需轻松地在图像上点击,即可移动到需要观测的目标区域。

4. 配备“低真空混合二次电子探测器(LHSED)”,即使在低真空条件下也能获得增强的形貌信息

该探测器同时收集电子和光子信号,即使在低真空条件下也能生成具有高信噪比的图像和增强的形貌信息。

5. 5轴电机控制样品台

标配5轴电机控制样品台,使用户能够更方便地对凹凸不平的样品进行SEM图像采集和EDS分析。

6. 改进的电子枪稳定性(JSM-IT710HR)

进一步提高了电子束的稳定性,可长时间自动连续运行,采用可同时装载多个样品的样品架。

年销量目标

JSM-IT710HR:150台/年
JSM-IT210:250台/年

JEOL Ltd.

3-1-2, Musashino, Akishima, Tokyo, 196-8558, Japan
Izumi Oi,总裁兼首席执行官
(股票代码:6951,东京证券交易所主板市场)
www.jeol.com

免责声明:本公告之原文版本乃官方授权版本。译文仅供方便了解之用,烦请参照原文,原文版本乃唯一具法律效力之版本。

在 businesswire.com 上查看源版本新闻稿: https://www.businesswire.com/news/home/20230709725153/zh-CN/

CONTACT

JEOL Ltd.

科学与测量仪器销售部

电话:+81-3-6262-3575

https://www.jeol.com/contacts/products.php

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